最新新聞
-
農(nóng)業(yè)儀器的分類有哪些?
2020-12-29 14:15:08
-
玉米科研實驗室設(shè)備清單
2025-07-14 13:05:38
-
品種審定區(qū)域試驗站儀器設(shè)備配置清單
2025-07-14 11:32:40
-
育種中心設(shè)備清單
2025-07-14 11:19:55
-
智慧農(nóng)業(yè)實驗室儀器清單
2025-07-14 10:46:44
推薦產(chǎn)品
-
昆蟲行為分析系統(tǒng)
型號:TP-KCXW
-
環(huán)控型植物生長表型分析系統(tǒng)
型號:TP-R420D-VC/TP-R1000D-VC
-
葉面積指數(shù)測量儀介紹|葉面積指數(shù)測量儀功能及原理詳解
葉面積指數(shù)測量儀介紹:
葉面積指數(shù)測量儀是款用來測量高層植物冠層的科研儀器!它采用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器來獲取植物冠層圖像,并通過專業(yè)分析軟件即可準(zhǔn)確而快速的獲取植物冠層中的葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率等相關(guān)參數(shù)。儀器可直接測量不同高度的植物冠層,同時也能得到群體內(nèi)光透過率和葉面積指數(shù)垂直分布圖。同時葉面積指數(shù)測量儀還自帶USB接口,用戶在測量時直接連接電腦即可實時查看冠層圖像等,可廣泛用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析以及農(nóng)林業(yè)科研領(lǐng)域!
葉面積指數(shù)測量儀原理:
葉面積指數(shù)測量儀是采用冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理,依據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律。在植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下,采用半理論半經(jīng)驗的公式,通過冠層孔隙率的測定,計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。
葉面積指數(shù)測量儀測量指標(biāo):
葉面積指數(shù)測量儀可以無損測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射(PAR)等參數(shù)。
葉面積指數(shù)測量儀功能:
1、儀器無損測量植物葉面積指數(shù)、葉片平均傾角以及冠層結(jié)構(gòu)。
2、探頭體積小巧,裝在測杠上可任意角度測量植物冠層結(jié)構(gòu)。
3、攝像頭可自動保持水平。
4、USB接口,測量時連接電腦實時查看冠層圖像,即時選取所需圖像并保存。
5、外接大容量鋰電池,適用于野外工作和長時間測量。
6、測量冠層不同高度,可得到群體內(nèi)光透過率和葉面積指數(shù)垂直分布圖。
7、葉面積指數(shù)測量儀配有專用植物分析軟件,有選擇所需圖像區(qū)域的功能(天頂角可分10區(qū),方位角可分10區(qū)),可屏蔽不合理的冠層部分,僅對有效圖像區(qū)域進(jìn)行分析,使測量數(shù)據(jù)更加精確。
點擊查看葉面積指數(shù)測量儀更多詳細(xì)信息 >>
浙江托普云農(nóng)科技股份有限公司專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)各類植物表型檢測儀器,如果您有任何關(guān)于植物表型檢測儀器方面的需求,歡迎與我們聯(lián)系,我們將為您提供專業(yè)的服務(wù)及技術(shù)支持!